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[发明专利]测量系统-CN202080066529.7在审
发明人： C·维斯特 -专利权人： MH测量技术有限公司
申请日： 2020-07-31 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种用于扫描式检测测量值的测量系统，其中，该测量系统包括测量仪器，其中，该测量系统构造为能够布置在机器的运动轴上，其中，该机器构造为机床或构造为测量机，其中，使用该测量仪器能够对测量对象进行测量，其中，该测量仪器在对测量对象进行测量时产生测量值，其中，该测量系统包括监控单元，其中，该监控单元能够处理和存储所述测量值，其中，该测量系统具有存储单元，以便存储所检测到的测量值。该测量系统的特征在于，该测量系统构造为用于使第一测量值与布置在该机器上的测量仪器的第一位置坐标相关联，其中，该测量系统构造为用于从该第一测量值与该第一位置坐标的关联出发，通过以下方式来为由该测量仪器所检测到的另外的测量值唯一地分配位置坐标：在检测所述测量值期间或者在检测所述测量值时，所述测量仪器的运动速度和运动方向对于该测量系统是已知的。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN202080059286.4有效
发明人： C·维斯特 -专利权人： MH测量技术有限公司
申请日： 2020-07-16 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：一种用于扫描获取测量值的测量系统。该测量系统特征在于，测量系统具有用于将该测量系统与机器的调控单元连接的接口，该机器构造为机床或者测量机，该测量系统具有测量仪器，该测量系统构造为能布置在机器的运动轴上，能够借助测量仪器测量一测量对象，该测量仪器在测量该测量对象时产生测量值，该测量系统具有控制单元，该控制单元具有存储器单元，以存储由测量系统获取的测量值，该控制单元能够处理和存储测量值，测量系统包括计时器，控制单元具有调控模块，该调控模块通过所述接口读取机器的位置坐标并且将所读取的位置坐标与预先给定的坐标目标范围对比
测量系统

[发明专利]测量系统-CN201910109893.6在审
发明人： C·科罗克;A·麦卡锡;A·谢里;G·C·多塔;D·欧多诺万;S·威尔逊;M·麦卡锡;C·G·莱登;F·特瑞西;M·伯恩 -专利权人：亚德诺半导体无限责任公司
申请日： 2019-02-11 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本发明涉及测量系统。各种示例涉及用于管理传感器的系统和方法。测量系统可以从主机装置接收描述测量系统的第一配置的第一寄存器映射。第一配置可以与第一传感器相关联。测量系统可以将第一寄存器映射与指示不一致的寄存器映射排列的错误规则集进行比较。在将第一寄存器映射与错误规则集进行比较之后，测量系统可以配置测量系统的开关矩阵，以根据测量系统的第一配置对第一传感器进行采样。测量系统可以从第一传感器接收多个样本，并至少部分地基于所述多个样本产生第一数字测量数据。
测量系统寄存器映射第一传感器错误规则配置数字测量数据管理传感器开关矩阵样本产生主机装置不一致配置的采样样本关联

[发明专利]测量系统-CN202211095736.2在审
发明人：杨梦龙;田边里美;高桥俊司;清水直树 -专利权人：株式会社野村综合研究所
申请日： 2022-09-08 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种测量系统，其高精度地测量物体的形状。测量系统包括：框线识别部，其从拍摄图像中检测出表示直线部分的1个以上的框线；深度测量部，其执行深度测量；和尺寸推算部，其基于拍摄图像和深度测量的结果，计算框线的长度。测量系统也可以具有从拍摄图像中确定出测量对象物所存在于的范围的功能。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN201310524732.6在审
发明人：林雨潭 -专利权人：杰瑞科技有限公司
申请日： 2013-10-30 - 公布日： 2014-12-24 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量系统测量物体的光穿透率，该测量系统包含光源组件、感应单元、承载单元与处理单元。该光源组件发射第一光线。该感应单元通过感应该第一光线的光强度而产生第一感应信号。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN201410818527.5在审
发明人：熊谷薰;齐藤政宏 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2008-12-25 - 公布日： 2015-07-29 - 主分类号： G01S17/66 文献下载
摘要：本发明涉及测量系统，具体而言，提供了一种测量系统，其包括测量仪器(1)和提供在目标侧的可移动侧控制装置(12)；该测量仪器(1)通过向目标(12)投射距离测量光来测量距离和角度，并能够测量所述目标的三维位置数据，且具有追踪该目标的功能，其中，所述测量仪器具有通信设备(15)和第一控制算法单元(29)；所述可移动侧控制装置具有目标位移量检测装置(38)和第二控制算法单元(35)，如果测量仪器不能追踪目标，则该第二控制算法单元
测量系统

[发明专利]测量系统-CN201710523459.3在审
发明人：吕绍玮;顾伟正;宋宏志 -专利权人：旺矽科技股份有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2018-02-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测量系统，用以对一待测物进行测量，其包含有一测量平台，具有一承载面，该承载面供放置该待测物；一悬臂，其一端连接于该测量平台，且可相对于该测量平台移动；一探针模块，设置于该悬臂上，该探针模块具有至少一探针
测量系统

[发明专利]测量系统-CN201711033773.X在审
发明人：畠中纪章 -专利权人：发那科株式会社
申请日： 2017-10-30 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： G05B19/05 文献下载
摘要：本发明提供一种测量系统，其具有：控制装置，其对控制对象装置进行实时控制，且向终端装置发送控制数据；及计测器，其获取表示所述控制对象装置的物理状态的数据，且作为测量数据发送到所述终端装置。所述计测器将包含基于定时信号的时刻信息的测量数据发送到所述终端装置。所述终端装置基于时刻信息对控制数据与测量数据之间的延迟进行补偿。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN201810548581.0在审
发明人：蔡俊弘;陈宣伃 -专利权人：日月光半导体制造股份有限公司
申请日： 2018-05-31 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01N25/00 文献下载
摘要：一种测量系统包含变温容器、光学装置以及空调。所述变温容器包含透明板。所述光学装置包含第一光学传感器单元和第二光学传感器单元。所述空调安置在所述透明板与所述光学装置之间。
光学装置光学传感器单元变温容器测量系统透明板空调安置

[发明专利]测量系统-CN202010137352.7在审
发明人：黑宝平;高付海;杨红义;张金山;李晓轩;莫亚飞;薄涛;梁莉;巫英伟 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2020-03-02 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G21C17/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量系统，包括：温度测量模块(1)，设置为测量核反应堆组件(5)的温度分布；变形测量模块(2)，设置为测量核反应堆组件(5)的变形情况；以及接触力测量模块(3)，设置为测量核反应堆组件(5)受到的接触力情况；其中，所述温度测量模块(1)、所述变形测量模块(2)以及所述接触力测量模块(3)的测量结果用于验证核反应堆组件(5)的温度、变形和接触力三者之间的关系。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN202080017550.8在审
发明人：弗洛里安·泽勒 -专利权人：舍弗勒技术股份两合公司
申请日： 2020-03-04 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01D5/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量系统，其包括与磁场相关的传感器，所述传感器为了检测可运动地支承的器件(6)的状态或运动与其相对置地设置，其中所述可运动地支承的器件(6)具有导磁率。在简单地且鲁棒地构成的测量系统中，所述可运动地支承的器件(6)至少部分地由不锈钢构成，其中在不锈钢中沿器件(6)的运动方向集成有具有预设的导磁率的至少一个区域(10，15，16)。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN202110890872.X在审
发明人：一之濑刚;道正智则 -专利权人：株式会社尼康
申请日： 2017-09-20 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G03F9/00 文献下载
摘要：用在微型元件的制造产线的测量系统(5001)，与曝光装置独立设置。测量系统(5001)具备：多个测量装置(1001～1003)，分别进行对基板(例如经由至少一个程序处理后且涂布感应剂前的基板)的测量处理；及搬送系统，用以与多个测量装置进行基板的移交。多个测量装置，包含在第1条件的设定下取得形成于基板的多个标记的位置信息的第1测量装置(1001)、及在第1条件的设定下取得形成于另一基板(例如与于第1测量装置在第1条件的设定下进行位置信息的取得的基板相同的批次所包含的另一基板)的多个标记的位置信息的第2测量装置(1002)。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN202110890873.4在审
发明人：一之濑刚;道正智则 -专利权人：株式会社尼康
申请日： 2017-09-20 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：用在微型元件的制造产线的测量系统(5001)，与曝光装置独立设置。测量系统(5001)具备：多个测量装置(1001～1003)，分别进行对基板(例如经由至少一个程序处理后且涂布感应剂前的基板)的测量处理；及搬送系统，用以与多个测量装置进行基板的移交。多个测量装置，包含在第1条件的设定下取得形成于基板的多个标记的位置信息的第1测量装置(1001)、及在第1条件的设定下取得形成于另一基板(例如与于第1测量装置在第1条件的设定下进行位置信息的取得的基板相同的批次所包含的另一基板)的多个标记的位置信息的第2测量装置(1002)。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN202080028059.5在审
发明人：本杰明·克利梅克;菲力克斯·舒尔特 -专利权人：菲尼克斯电气公司
申请日： 2020-03-26 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： H03M1/80 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于检测开关状态的测量系统(100)，所述系统包括具有信号输入端(103‑1、103‑2)的信号转换器(101)，表示开关状态的相关的二进制开关信号可以施加到每一个信号输入端。在每个信号输入端(103‑1、103‑2)的下游连接一个电阻器(105‑1、105‑2)，在该电阻器上可以根据相关的二进制开关信号分接相关的测量信号，其中电阻器(105‑1、105‑2)具有彼此不同的电阻值信号转换器还具有信号输出端(107)，其连接在电阻器(105‑1、105‑2)的下游，以便在信号输出端(107)处提供具有总电流强度的总测量信号，该总测量信号由测量信号的总和形成，总测量信号具有可以唯一地分配给多个电流强度参考值中的一个电流强度参考值的电流强度，测量系统(100)具有控制器(109)，该控制器用于接收总测量信号，并根据总测量信号的总电流强度检测开关状态。
测量系统

[发明专利]测量系统-CN202080032284.6在审
发明人： D·安德森;柏拉卡斯·斯里达尔·穆尔蒂 -专利权人： ATONARP株式会社
申请日： 2020-04-27 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：提供了一种用于测量的系统(1)。系统(1)包括核心光学模块(10)和扫描接口模块(11)。
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